การวิเคราะห์การเคลือบระดับนาโนที่รวดเร็วและแม่นยำ

FT160ตั้งโต๊ะXRFเครื่องวิเคราะห์ถูกออกแบบมาเพื่อวัดในปัจจุบันพีซีบีชิ้นส่วนเล็ก ๆ บนเซมิคอนดักเตอร์และไมโครคอนเนคเตอร์ ความสามารถในการวัดชิ้นส่วนเล็ก ๆ ได้อย่างแม่นยำและรวดเร็วช่วยเพิ่มผลผลิตและหลีกเลี่ยงการทำใหม่หรือการทิ้งส่วนประกอบที่มีค่าใช้จ่ายสูง

FT160องค์ประกอบแสงหลอดละเอียดที่มีขนสามารถวัดได้น้อยกว่า50 ไมโครมการเคลือบระดับนาโนในตัวละครเทคโนโลยีการตรวจจับขั้นสูงช่วยให้คุณมีความแม่นยำสูงในขณะที่รักษาระยะเวลาการวัดที่สั้นลง คุณสมบัติอื่น ๆ เช่นโต๊ะตัวอย่างขนาดใหญ่ประตูห้องโดยสารตัวอย่างกว้างกล้องตัวอย่าง HD และหน้าต่างสังเกตการณ์ที่แข็งแรงสามารถโหลดสิ่งของที่มีขนาดแตกต่างกันได้อย่างง่ายดายและค้นหาพื้นที่ที่น่าสนใจบนพื้นผิวขนาดใหญ่ เครื่องวิเคราะห์ใช้งานง่ายด้วยของคุณคุณภาพ / QCกระบวนการทำงานแบบบูรณาการอย่างราบรื่นเพื่อเตือนคุณก่อนเกิดวิกฤตปัญหา

จุดเด่นของผลิตภัณฑ์

FT160เทคโนโลยีออปติคัลและเครื่องตรวจจับได้รับการออกแบบมาเป็นพิเศษสำหรับการวิเคราะห์จุดด่างดำและการเคลือบผิวที่บางเฉียบเหมาะสำหรับคุณสมบัติที่เล็กที่สุด

หน้าต่างสังเกตการณ์ขนาดใหญ่สำหรับดูการวิเคราะห์จากระยะที่ปลอดภัย

วิธีการวัด สอดคล้องมาตรฐาน ISO 3497、มาตรฐาน ASTM B568และมาตรฐาน DIN 50987มาตรฐาน

หมายเลข IPC-4552B、ติดต่อ IPC-4553A、มาตรฐาน IPC-4554และมาตรฐาน IPC-4556การตรวจสอบการเคลือบที่สอดคล้องกัน

ตำแหน่งคุณลักษณะอัตโนมัติสำหรับการตั้งค่าตัวอย่างรวดเร็ว

ตัวเลือกการกำหนดค่าเครื่องวิเคราะห์ที่ปรับให้เหมาะกับแอพพลิเคชันของคุณ

น้อยกว่า50 ไมโครมคุณสมบัติ การวัดการเคลือบระดับนาโน

เพิ่มฟลักซ์การวิเคราะห์เป็นสองเท่าของเครื่องมือแบบดั้งเดิม

สามารถเก็บตัวอย่างขนาดใหญ่ในรูปทรงต่างๆ

ออกแบบมาเพื่อการใช้งานที่ยาวนานในการผลิต